半導體檢測是什麼？從光源應用到虛像原理，一次看懂

一、為什麼半導體晶片需要光源檢測？

半導體晶片非常精密，細微的刮傷、髒污或缺角，都可能影響產品品質。

透過相機搭配適當的光源，可以讓產品表面的缺陷更清楚，方便後續進行影像分析與檢測。

光源的目的，就是幫助相機拍出更容易辨識的影像。

二、為什麼光源不能只看亮度？

光源越亮，不代表檢測效果越好。

如果光線太強或角度不適合，可能產生反光，反而讓細微缺陷不容易看見。

因此，需要依照產品特性，調整光源的角度、位置、亮度與顏色，讓檢測影像更清楚。

三、什麼是虛像？為什麼光源位置很重要？

「虛像」就是看起來位於某個位置，但實際上並不在那裡的影像。

例如：照鏡子時，我們會看到鏡子裡的自己，但鏡子後方其實沒有人。

在光學系統中，光源也可能透過光學元件形成虛像，使實際發光面與虛像位置不同

了解這些位置關係，有助於評估光源與相機的搭配方式。

四、工作距離與視野會影響檢測結果嗎？

機器視覺檢測中，有兩個常見的名詞：

工作距離（WD）： 相機鏡頭與待測物之間的距離。

視野（FOV）： 相機一次能拍攝到的範圍。

工作距離、鏡頭與光源的配置，都會影響拍攝效果。選擇合適的配置，才能讓檢測影像更符合需求。

五、如何選擇適合的半導體檢測光源？

不同的檢測需求，需要搭配不同的光源。

同軸光源： 適合部分平整、反光表面的檢測。

回型光源： 可依產品外形與照明需求，應用於不同檢測場景。

高亮度聚光型線光源： 適合需要集中線狀照明的檢測應用。

實際選擇時，仍需考量產品材質、缺陷類型與相機配置，並透過測試確認效果。

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